ZEISS scatterControl

Vynikajúca kvalita CT obrazu

Hardvérové riešenie pre optimalizovanú kvalitu obrazu

Modul ZEISS scatterControl výrazne zlepšuje kvalitu obrazu a minimalizuje artefakty rozptylu pri CT skenovaní. Tieto vylepšenia uľahčujú následné spracovanie dát a vyhodnocovanie vhodných súčastí, čo vedie k ešte presnejšiemu určeniu povrchu a analýze chýb. Produkt je ideálny pre objemné a husté súčasti, ako napríklad aditívne vyrobené kovové diely a hliníkové liatinové diely, dokonca aj s oceľovými vložkami, ako aj iné zostavy obsahujúce hustejšie materiály.

Modul je k dispozícii pre ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, buď ako dodatočné riešenie, alebo ako súčasť nákupu nového systému. Inovujte svoj systém pomocou ZEISS scatterControl už teraz a užívajte si vyššiu kvalitu obrazu pre výrazne jednoduchšie vyhodnocovanie dát.

Lepšia kvalita obrazu, lepšia detekcia chýb

ZEISS scatterControl výrazne zlepšuje kvalitu CT obrazu znížením výskytu artefaktov spôsobených rozptýleným žiarením. Zvýši sa kontrast medzi rôznymi komponentmi a zisťovanie chýb je zjednodušené: Oblasti súčastí, ktoré bolo predtým takmer nemožné vyhodnotiť, je teraz možné posúdiť.
Vylepšené určenie povrchu

Nielen detekcia chýb, ale aj celková kvalita určenia povrchu profituje z ZEISS scatterControl. Toto je značná výhoda pre metrologické aplikácie na náročných súčastiach, kde artefakty rušia proces určovania povrchu, ak nie sú opravené.
Rýchle skenovanie s režimom VAST

ZEISS scatterControl funguje so ‘Stop and Go’ aj VAST režimom skenovania. Riešenie scatterControl poskytuje vynikajúcu kvalitu obrazu pre kužeľové CT, ktorá je porovnateľná s kvalitou CT s vejárovým lúčom – avšak až s 1000x rýchlejším časom skenovania.
Jednoduché ovládanie

ZEISS scatterControl je riešenie na jedno kliknutie. Modul bezproblémovo spolupracuje s ďalšími užitočnými funkciami METROTOM OS, ako je VHD (Virtual Horizontal Detector Extension - Virtuálne horizontálne rozšírenie detektora), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction - Pokročilé zníženie artefaktov zmiešaných materiálov) alebo VolumeMerge, a je plne integrovaný do softvéru.

ZEISS scatterControl na lepšiu analýzu chýb

ZEISS scatterControl výrazne zlepšuje kvalitu obrazu CT skenov pre rôzne súčasti a odvetvia. Existujú jasné dôvody, od efektívneho odstraňovania artefaktov až po umiestnenie modulu vo vzťahu k dielu, ktoré robia ZEISS scatterControl ideálnou voľbou. Nižšie zistite, ako môžete modul použiť na vynikajúcu detekciu a analýzu chýb.

Znížené artefakty pre lepšiu kvalitu CT obrazu

ZEISS scatterControl robí jednoznačný rozdiel. Pomocou posuvného prvku porovnajte kvalitu röntgenového obrazu, ktorú je možné dosiahnuť s modulom scatterControl a kvalitu, ktorú dosiahnete bez neho. Vylepšený obraz vykazuje vyšší kontrast a menej artefaktov, takže detaily vyniknú oveľa zreteľnejšie.

Vynikajúca kvalita vďaka umiestneniu modulu

ZEISS scatterControl dosahuje vynikajúcu kvalitu v porovnaní s podobnými produktami vďaka princípu fungovania modulu: Je umiestnený medzi rúrkou a detektorom. Menšie objekty, ako napríklad husté diely vyrobené aditívne, možno umiestniť pred modul, väčšie objekty zaň. Funguje v oboch prípadoch. Okrem toho vstavaný senzor fyzickej kolízie a sofistikovaný softvér na predpovedanie kolízií účinne zabraňujú nárazom.

Ideálne pre rôzne súčasti a odvetvia

Zlievareň: Masívne hliníkové alebo horčíkové diely, dokonca aj s oceľovými vložkami
Automobilový priemysel: Odliatky s oceľovými vložkami, výkonová elektronika
Aditívna výroba: Husté, kovom tlačené diely

Vylepšená 3D kontrola

Vylepšenia objemových dát vedú k výrazne jednoduchšiemu vyhodnocovaniu. 3D povrchy možno určiť a vykresliť bez rušivých artefaktov. Mnohé artefakty sú typicky výsledkom rozptýleného žiarenia a spôsobujú v 3D pseudopovrchy, ktoré bránia presným meraniam.

Spoľahlivý softvér na vyhodnocovanie pre röntgenovú kontrolu

Softvér ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) spoľahlivo deteguje aj tie najmenšie chyby - v prípade vstrekovaných, medicínskych, aditívne vyrábaných komponentov a ďalších.

Ďalšie informácie

Medzi súčasti, ktoré z ZEISS scatterControl ťažia najviac, patria masívne hliníkové alebo horčíkové súčasti, liatinové súčasti s oceľovými vložkami, výkonová elektronika, ako aj husté a kovom tlačené súčasti, aby sme spomenuli len niekoľko príkladov.
ZEISS scatterControl je riešenie na jedno kliknutie. Softvérová a hardvérová ochrana pred kolíziou sú už integrované, čo znamená, že proces skenovania môžete spustiť bez akýchkoľvek ďalších krokov.
Áno, ZEISS scatterControl je ideálne dodatočné vybavenie pre ZEISS METROTOM 1500 G3. Na rozšírenie vášho CT o modul scatterControl môžu byť potrebné aktualizácie, napríklad pre METROTOM OS.

Kontaktujte nás

Máte záujem o ďalšie informácie o našich produktoch alebo službách? Radi vám poskytneme ďalšie podrobnosti alebo živú ukážku, buď na diaľku alebo osobne.

ZEISS Metrology Shop

Ľahko objednávajte sondy, meracie príslušenstvo a ďalšie produkty

ZEISS Metrology Portal

Získajte prístup k úplnej ponuke systémov a softvérových služieb.

ZEISS Academy Metrology

Vaše personalizované školenie v oblasti metrológie, dostupné v rôznych formátoch

Potrebujete viac informácií?

Ozvite sa nám. Naši odborníci sa vám ozvú.

Formulár sa načítava...

Ďalší krok:

Dotaz na úroky
Osobné údaje
Údaje o spoločnosti

Ak chcete získať viac informácií o spracovaní údajov v spoločnosti ZEISS, prečítajte si naše vyhlásenie o ochrane osobných údajov.

ZEISS scatterControl

Hardvérové riešenie pre optimalizovanú kvalitu obrazu

Ako môžete využiť ZEISS scatterControl

Lepšia kvalita obrazu, lepšia detekcia chýb

Vylepšené určenie povrchu

Rýchle skenovanie s režimom VAST

Jednoduché ovládanie

ZEISS scatterControl na lepšiu analýzu chýb

Znížené artefakty pre lepšiu kvalitu CT obrazu