Riešenia ZEISS pre materiálografiu

Materiály sú čoraz zložitejšie. Analýza je jednoduchšia.

Zvládnutie komplexnosti. S mikroskopickými riešeniami od ZEISS.

Úlohy v materiálografii sa neustále menia a požiadavky na výkon sa zvyšujú. Komponenty sú čoraz komplexnejšie, povlaky stále tenšie. Miniaturizácia v elektronike napreduje. Nové kompozitné materiály sa používajú najmä v ľahkých konštrukciách. Udržateľné materiály a aditívne vyrábané komponenty predstavujú špecifické výzvy v oblasti charakterizácie materiálov. Zároveň sa všeobecne znižujú tolerancie chýb, čo si vyžaduje presnejšie analýzy. Laboratóriá na skúšanie materiálov s týmto vývojom musia držať krok. Sú pod stále väčším časovým tlakom. ZEISS ponúka materiálografom unikátnu škálu mikroskopov, softvéru a služieb na efektívne riešenie testovania. Okrem toho sú riešenia ZEISS Microscopy obzvlášť jednoduché pre všetkých používateľov, pretože vďaka algoritmom hlbokého učenia sú výsledky spoľahlivejšie a rýchlejšie ako kedykoľvek predtým.

Bezchybná a efektívna mikroskopia. Od vzorky po výsledok.

V materiálografii sú zmysluplné výsledky mikroskopie zaručené len vtedy, ak boli bezchybne vykonané aj predchádzajúce kroky procesu. ZEISS poskytuje vhodné mikroskopy, ktoré zabezpečia spoľahlivosť a efektívnosť celého procesu analýzy: od extrakcie a prípravy vzoriek po získavanie obrazu, spracovanie obrazu a vyhodnotenie.

	Kovový povrch pri 24-násobnom zväčšení	Polarizačný kontrastný obraz na kontrolu procesu leptania	Kontrastný obraz tmavého poľa povlaku Fosterit	Automatická segmentácia obrazu pomocou ZEISS ZEN core	3D zobrazenie kryštálovej štruktúry titánu
Príklad mikroskopov	ZEISS Stemi 508 Stereo mikroskop s 8:1 zväčšením Rozlíšenie: 1 µm	ZEISS Axioscope 5 Čiastočne motorizovaný svetelný mikroskop s kódovanými prvkami Rozlíšenie: 0,7 µm	ZEISS Axio Imager Mikroskopický systém na automatizovanú analýzu materiálov Rozlíšenie: 250 nm	ZEISS EVO SEM na priemyselnú analýzu kvality Rozlíšenie: 2 nm	ZEISS Versa Röntgenový mikroskop na nedeštruktívne 3D zobrazovanie 3D rozlíšenie: 40 nm

Kliknutím na kruhové značky na obrázku otvoríte informačné okno s ďalšími podrobnosťami.

Vzorový mikroskopický program pre materiálové laboratórium: svetelná a digitálna mikroskopia

ZEISS Stemi 305/508

Kontrola vzorky pomocou stereo mikroskopov ZEISS Stemi 305/508

ZEISS Axio Imager

Automatizovaná analýza materiálov s plne motorizovaným mikroskopickým systémom ZEISS Axio Imager

ZEISS Axio Zoom.V16

Veľké polia vzoriek, topografia so stereo zoom mikroskopom ZEISS Axio Zoom.V16

ZEISS Axiovert 5/7

Veľké a ťažké vzorky s invertovaným mikroskopom ZEISS Axiovert 5/7

ZEISS Axioscope

Rutinné úlohy v materiálovom laboratóriu s mikroskopom na odrazené svetlo ZEISS Axioscope

ZEISS Smartzoom 5

Opakované analýzy vzoriek a topografia s automatizovaným digitálnym mikroskopom ZEISS Smartzoom 5

Kliknutím na kruhové značky na obrázku otvoríte informačné okno s ďalšími podrobnosťami.

Vzorový mikroskopický program pre materiálové laboratórium: Skenovacia elektrónová a röntgenová mikroskopia

ZEISS CrystalCT

Nedeštruktívne 3D röntgenové zobrazovanie s röntgenovým mikroskopom s vysokým rozlíšením ZEISS CrystalCT

ZEISS Sigma

Vysokokvalitné zobrazovanie s emisným skenovacím elektrónovým mikroskopom ZEISS Sigma

ZEISS EVO

Modulárna elektrónová mikroskopia so skenovacím elektrónovým mikroskopom ZEISS EVO

ZEISS ZEN core je štandardizované riešenie na zobrazovanie, segmentáciu, analýzu a prepojiteľnosť dát v materiálovom laboratóriu. Vďaka konfigurovateľnému používateľskému rozhraniu podľa konkrétnej úlohy môžu softvér jednoducho a bezpečne ovládať aj nezaškolení používatelia. ZEN core využíva umelú inteligenciu na automatizovanie manuálne zložitých pracovných krokov, ako je segmentácia. Jednoduchá korelácia svetelnej, digitálnej a elektrónovej mikroskopie umožňuje hlbšie pochopenie mikroštruktúry a analýzu porúch. Prostredníctvom ZEISS ZEN core je možné prepojiť niekoľko laboratórnych lokalít.

Vaše riadiace centrum pre všetky úlohy.

Softvér ZEISS ZEN core.

ZEISS ZEN core

Pomocou ZEISS ZEN core je možné prepojiť rôzne typy mikroskopov a laboratórne lokality.

Rýchlejšie a spoľahlivejšie testovanie pomocou hlbokého učenia

ZEISS ZEN core poskytuje automatizovanú analýzu obrazu pre analýzu častíc a fáz. Techniky hlbokého učenia výrazne znižujú pracovnú záťaž pri týchto aplikáciách a vždy pracujú reprodukovateľne, podľa rovnakých natrénovaných vzorov, bez ohľadu na používateľa a lokalitu. Obraz mikroskopu hliníkovej zliatiny je automaticky segmentovaný pomocou hlbokého učenia. Algoritmus spoľahlivo identifikuje jednotlivé zrná. Dotýkajúce sa a prekrývajúce sa objekty je možné oddeliť (segmentácia inštancií).

Ďalšie informácie

Segmentácia z ZEISS arivis Cloud

Najnovšie modely hlbokého učenia: Automatické AI podporované stanovenie hraníc zŕn keramiky, austenitickej ocele, tvrdého kovu a zliatiny na báze medi. V tomto príklade stačilo natrénovať model hlbokého učenia na spoľahlivé rozpoznávanie hraníc zŕn všetkých štyroch materiálov.

Korelácia so svetelnými, digitálnymi a elektrónovými mikroskopmi

ZEISS ZEN Connect

Rôzne mikroskopy - jedno korelované vyhodnotenie

Pre mnohé aplikácie má zmysel analyzovať rovnakú vzorku pomocou svetelného aj elektrónového mikroskopu. Rôzne úrovne zväčšenia a kontrasty spolu poskytujú hlbšie pochopenie stavu vzorky. S ZEISS ZEN Connect môžete efektívne prekrývať multimodálne obrazové dáta a rýchlo prepínať z celkového pohľadu na podrobné zobrazenie s vysokým rozlíšením. Všetky obrazové dáta, vrátane dát od poskytovateľov tretích strán, je možné pohodlne zarovnať, prekryť a zobraziť v kontexte pomocou ZEISS ZEN Connect.

Sady nástrojov ZEISS ZEN core

ZEISS ZEN core má modulárnu štruktúru a je možné ho individuálne rozširovať o potrebné nástroje.

Spoločnosť ZEISS ponúka okrem iného tieto doplnkové sady nástrojov:

Materiálové aplikácie
Nástroje na analýzu veľkosti zŕn, analýzu liatiny, multifázové analýzy, porovnávanie referenčných sérií a meranie hrúbky povlaku
AI sada nástrojov
AI aplikačná sada na segmentáciu, klasifikáciu objektov a odšumovanie obrazu, vrátane tréningových rozhraní
2D sada nástrojov na analýzu obrazu
2D analýza obrazu pomocou automatických programov merania, vrátane pokročilého spracovania
Vývojárska sada nástrojov
Programovanie vlastných makier v programovacom jazyku Python, ovládanie ZEISS ZEN core prostredníctvom rozhrania API
Úložisko dát
Centrálna obrazová databáza založená na SQL na inteligentnú správu dát s integrovanou správou používateľov a prístupov
Connect Toolkit
ZEISS ZEN Connect umožňuje zarovnať, prekryť a korelovať multimodálne obrazové dáta z rôznych typov mikroskopov.

Charakterizácia materiálov pomocou ZEISS ZEN core

Jednoduché vyhodnocovanie v súlade s normami

	Technická keramika, medicínska technika	CFRP, letecký a kozmický priemysel	Solárny článok, obnoviteľné energie	Šedá liatina, systémové inžinierstvo	Oceľ, systémové inžinierstvo
Aplikácia	Veľkosti zŕn Rozdelenie veľkosti zŕn	Multifázy Fázový podiel v percentách plochy	Hrúbky vrstiev Automatická detekcia okrajov	Liatina Veľkosť, tvar a distribúcia liatinových častíc	NMI Množstvo a veľkosť oxidov, sulfidov, nitridov atď.
Vysvetlenie	Kvantifikujte kryštalografickú štruktúru svojich materiálov podľa medzinárodných noriem.	Pomocou tohto modulu môžete určiť fázy podľa veľkosti častíc aj podľa percentuálneho podielu príslušnej povrchovej plochy fázy. Dôležitou aplikáciou je skúmanie pórovitosti.	Zmerajte hrúbku povlakov a pokovovaní alebo hĺbku spevnených povrchov v priereze vzorky. Vyhodnoťte zložité povlakové systémy automaticky alebo interaktívne a výstupy prezentujte v prehľadnom reporte.	Plné automaticky analyzujte tvar a veľkosť grafitových častíc v liatine a určujte percentuálny podiel grafitových častíc podľa plochy.	Pomocou tohto modulu môžete skúmať nekovové inklúzie v oceli na posúdenie čistoty ocele. Automatizované riešenie pracovného postupu založené na normách zahŕňa odber vzoriek, klasifikáciu inklúzií a vyhodnotenie inklúzií, ako aj dokumentáciu výsledkov a archiváciu.

Príklad technológie batérie:
Analýza veľkosti zŕn katódových častíc NCM

Okrajovo viditeľné hranice zŕn katódových častíc NCM možno odhaliť pomocou elektrónového mikroskopu ZEISS s detektorom Inlense-EsB. Algoritmus AI potom automaticky a spoľahlivo segmentuje mikroskopickú snímku. Takto analyzovaný obraz možno použiť napríklad na stanovenie distribúcie veľkosti zŕn.
Príklad: Multifázová analýza
na tepelne nastriekanom povlaku

Tepelne nastriekané povlaky okrem iného zlepšujú odolnosť podkladu voči korózii, teplu alebo opotrebeniu. Pórovitosť metalograficky pripravenej vzorky sa dá ľahko určiť pomocou multifázovej analýzy podporovanej AI. Pórovitosť umožňuje vyvodiť závery o štruktúre a tvrdosti nastriekaného povlaku.

Nemôže to byť jednoduchšie... a bez ohľadu na to, kto by túto vzorku skúmal, výsledky merania by boli vždy rovnaké.

Stéphane Monod Manažment kvality v Smith+Nephew v Aarau. Prečítajte si viac a stiahnite si leták „Nemôže to byť jednoduchšie“.

Zistite viac o našich ZEISS riešeniach pre materiálografiu

Inteligentnejšie. Časovo úspornejšie. ZEISS ZEN Intellesis.
Metalografia a testovanie materiálov s materiálovými modulmi ZEISS ZEN core.
Zaručená kvalita vo výrobe ocele: Analýza nekovových vplyvov ZEISS (NMI)
ZEISS ZEN Connect: Mikroskopické snímky a analytické dáta v celkovom kontexte.
ZEISS ZEN Data Storage: Centralizovaná správa dát v sieťových laboratórnych prostrediach.

Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

AI urýchľuje proces merania Riešenie ZEISS podporované AI kontroluje povlaky implantátov automaticky.

AI urýchľuje proces merania
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

SPC Werkstofflabor GmbH podporuje výrobcov a spracovateľov ocele ako servisný partner - spoliehajúc sa na kombináciu svetelnej a skenovacej elektrónovej mikroskopie od ZEISS

Kontrola je lepšia: SPC kontroluje materiály pomocou mikroskopie ZEISS
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

Používaním osvedčených techník strojového učenia, ako je klasifikácia pixelov alebo hlboké učenie, ZEISS ZEN Intellesis umožňuje aj neodborníkom dosiahnuť robustné a reprodukovateľné výsledky segmentácie. Jednoducho nahrajte svoju snímku, definujte triedy, označte pixely, natrénujte model a vykonajte segmentáciu.

Inteligentnejšie. Časovo úspornejšie. ZEISS ZEN Intellesis.
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

Ako môžete urýchliť svoje metalografické skúšky? Ako sa vysporiadate s novými materiálmi? Ako sa vyhnete nesprávnym výsledkom? Ako zabezpečíte produktivitu v laboratóriu? Namiesto jednoduchého získavania funkcií získate so ZEN core skutočný balík produktivity a posuniete svoje materiálové skúšky na vyššiu úroveň

Metalografia a testovanie materiálov s materiálovými modulmi ZEISS ZEN core.
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

Oceľ je jedným z najpoužívanejších materiálov na svete. Napriek svojej malej veľkosti môžu nekovové inklúzie ovplyvniť mechanické vlastnosti ako aj spracovateľnosť a koróznu odolnosť ocele. ZEN Non-Metallic Inclusions je vaše riešenie na rýchlu a spoľahlivú analýzu NMI.

Zaručená kvalita vo výrobe ocele: Analýza nekovových vplyvov ZEISS (NMI)
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

So ZEN Connect môžete vizualizovať rôzne mikroskopické obrázky a dáta vzorky - v ich kontexte na jednom mieste. Objavte súvislosti medzi dátami snímok z rôznych mierok. Môžete tiež využívať výhody integrovaných reportov keď ide o prepojené súbory dát.

ZEISS ZEN Connect: Mikroskopické snímky a analytické dáta v celkovom kontexte.
Obsah tretej strany je zablokovaný

Prehrávač videí je zablokovaný na základe vašich nastavení súborov cookie. Ak chcete zmeniť toto nastavenie a prehrať video, kliknite na tlačidlo nižšie a udeľte súhlas s použitím „funkčných“ sledovacích technológií.

ZEN Data Storage umožňuje centralizovanú správu prednastavení zariadení, pracovných postupov, dát snímok a reportov z rôznych systémov a laboratórnych lokalít. Oddeľte získavanie mikroskopických snímok od následných analytických úloh, aby bola laboratórna práca ešte efektívnejšia.

ZEISS ZEN Data Storage: Centralizovaná správa dát v sieťových laboratórnych prostrediach.

Presné, spoľahlivé výsledky sú samozrejme dôležité, ale rovnako dôležité je ich rýchle získanie.

Thomas Schaupp Vedúci laboratória v akreditovanom materiálovom laboratóriu SPC. Prečítajte si viac a stiahnite si leták „Oceľ musí vydržať“.

Mikroskopické aplikácie pre materiálografiu:

Príklady zákazníkov z priemyslu pre priemysel

Nemôže to byť jednoduchšie.

Riešenie ZEISS podporované AI kontroluje povlaky implantátov automaticky.

Priekopník v oblasti e-mobility.

E-pohon: GROB a ZEISS robia výrobu efektívnou a bezchybnou.

Kombinovaná mikroskopia ZEISS na testovanie materiálov

Kombinácia svetelnej a skenovacej elektrónovej mikroskopie od ZEISS presvedčí.

Ďalšie informácie

Na stiahnutie

ZEISS IMS Materialography Brochure EN

4 MB

Stiahnuť
ZEISS IQS, Mic and Medical, Success Story, SmithandNephew, EN, PDF

12 MB

Stiahnuť
ZEISS IQS, Mic and NEV, Success Story, GROB, EN, PDF

13 MB

Stiahnuť
ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

17 MB

Stiahnuť

Kontaktujte nás

Máte záujem o ďalšie informácie o našich produktoch alebo službách? Radi vám poskytneme ďalšie podrobnosti alebo živú ukážku, buď na diaľku alebo osobne.

ZEISS Metrology Shop

Ľahko objednávajte sondy, meracie príslušenstvo a ďalšie produkty

ZEISS Metrology Portal

Získajte prístup k úplnej ponuke systémov a softvérových služieb.

ZEISS Academy Metrology

Vaše personalizované školenie v oblasti metrológie, dostupné v rôznych formátoch

Potrebujete viac informácií?

Ozvite sa nám. Naši odborníci sa vám ozvú.

Formulár sa načítava...

Ďalší krok:

Dotaz na úroky
Osobné údaje
Údaje o spoločnosti

Ak chcete získať viac informácií o spracovaní údajov v spoločnosti ZEISS, prečítajte si naše vyhlásenie o ochrane osobných údajov.